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流通加工是生产加工的延伸。( )

A. 对
B. 错

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“H”型封箱主要用于二级封箱。( )

A. 对
B. 错

可测试性的英文缩写为()。

A. DFT
B. DMF
C. MTBF
D. MTTF

可测试性设计是指在电子产品设计中加入了先进的测试设计,使得所涉及产品的制造测试、开发和应用变得更为容易和便宜。

A. 对
B. 错

可测试性设计中测试点最小间距达0.18mm。

A. 对
B. 错

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