A. 来料检验 B. 出货检验 C. 抽样检验
A. 超控制 B. 超规范 C. 超警戒
A. 当CHART含盖混合的工艺设备输出，则计算控制线的数据包含所有的设备输出 B. 当过程变差变大时即可重新计算控制线 C. 计算控制线时明显的异常点（如：数据输错，误操作等）应该去除后再算，以免放宽控制线
A. 新设备加入或设备移出 B. 过程波动变大 C. 规范更改
A. 1点超3sigma和连续7点在中心值一侧 B. 1点超3sigma和3点中有2点在A区或A区以外 C. 1点超3sigma和连续7点上升或下降
A. Cpl B. Cpu Cpk
A. Cpk是用子组均值计算，Ppk是用单点计算 B. Cpk是用单点计算，Ppk是用子组均值计算 C. 没什么区别
A. 组内变异小，组间变异大 B. 组内变异大，组间变异小 C. 组内变异和组间变异相同
A. 局部措施 B. 系统措施 C. 普通措施
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