A. 0.2nm B. 0.2μm C. 0.2 mm D. 0.2 cm
A. 样品室大,可观察块状样品 B. 可观察材料内部结构 C. 利用反射电子和二次电子成像 D. 样品可被升降或倾斜
A. 可观察样品的样品尺寸范围小 B. 可观察材料内部结构 C. 利用反射电子和二次电子成像 D. 利用透射电子成像
A. 原子力显微镜 B. 扫描电镜 C. 透射电镜 D. 光学显微镜
A. 入射电子 B. 二次电子 C. 散射电子 D. 透射电子
A. 吸收电子 B. 二次电子 C. 透射电子 D. 俄歇电子
A. 玻璃的 B. 石英的 C. 电磁的 D. 没有透镜
A. 原子光谱仪 B. 分子光谱仪 C. 电子显微镜 D. 电化学工作站
A. 透镜 B. 电压 C. 磁场 D. 电场
A. 扫描电镜分析 B. 透射电镜分析 C. 光学显微镜分析 D. 原子力显微镜分析