A. 与探测面平行的大平底面 B. R200的凹圆柱底面 C. R200的凹球底面 D. R200的凸圆柱底面
A. 纵波; B. 压缩波; C. 横波; D. 表面波。
A. 被检工件厚度太大 B. 工件底面与探测面不平行 C. 耦合剂有较大声能损耗 D. 工件与试块材质,表面光洁度有差异
A. 波长的一半 B. 一个波长 C. 四分之一波长 D. 若干个波长