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样块比较法适用于Ra>2.5um的表面。()

A. 对
B. 错

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显微镜比较法适用于Ra<0.32um的表面。()

A. 对
B. 错

光切显微镜测量法适用于Rz在0.8~100um的表面。()

A. 对
B. 错

干涉显微镜测量法适用于Rz在0.8~100um的表面。()

A. 对
B. 错

印模法常用于深孔、盲孔、凹槽和内螺纹等表面粗糙度的测量。()

A. 对
B. 错

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