A. 频率增加,晶片直径减小而减小 B. 频率或晶片直径减小而增大 C. 频率或晶片直径减小而减小 D. 频率增加,晶片直径减小而增大
A. 没有特定的方式 B. 采用底波方式 C. 采用试块方式 D. 采用底波方式和试块方式
A. 发射电路在单位时间内重复发射脉冲次数 B. 扫描电路每秒钟内重复扫描次数 C. 探头晶片在单位时间内向工件重复辐射超声波次数 D. 以上全部都是
A. 74dB B. 66dB C. 60dB D. 80dB
A. 仪器分辨力提高 B. 仪器分辨力降低,但超声强度增大 C. 声波穿透力降低 D. 对试验无影响