A. 斜平行扫查 B. 串列扫查 C. 双晶斜探头前后扫查 D. 交叉扫查
A. 正确 B. 错误
A. 按缺陷第一次回波(F1)评定缺陷 B. 按缺陷第二次回波(F2)评定缺陷 C. 按缺陷多次回波中最大值评定缺陷 D. 以上都可以
A. 在工件中得到纯横波 B. 得到良好的声束指向性 C. 实现声束聚焦 D. 减少近场区的影响
A. 精确对缺陷定位 B. 精确测定缺陷形状 C. 测定缺陷的动态波形 D. 以上方法须同时使用