A. 本征半导体 B. N型半导体 C. P型半导体
A. UD >死区电压 B. UD >0 C. UD
A. 右移 B. 上移 C. 下移 D. 左移
A. 温度 B. 掺杂工艺 C. 掺杂浓度 D. 晶体缺陷
A. 0.0 B. 死区电压 C. 反向击穿电压 D. 正向压降