A. 耦合层厚度,超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗 B. 探头接触面介质声阻抗 C. 工件被探测面材料声阻抗 D. 以上都对
A. 定性分析 B. 定量分析 C. 因果分析 D. 系统分析
A. 正确 B. 错误