A. 面谈 B. 观察 C. 询问 D. 报告
A. 爬波探头的外形和结构与横波斜探头类似 B. 当纵波入射角大于或等于第二临界角时,在第二介质中产生爬波 C. 爬波用于探测表层缺陷 D. 爬波探测的深度范围与频率f和晶片直径D有关
A. 控制耦合、资料耦合、公共耦合和内容耦合 B. 资料耦合、控制耦合、公共耦合和内容耦合 C. 公共耦合、资料耦合、控制耦合和内容耦合 D. 内容耦合、资料耦合、公共耦合和控制耦合