A. surfacepassivation(表面钝化) B. dopingbarrier(掺杂的掩蔽层) C. surfacedielectric(表面绝缘) D. MOSgatesoxide(栅氧)
A. 二氧化硅膜足够厚 B. 二氧化硅性质比较稳定 C. 杂质在二氧化硅中的扩散系数远远小于在硅中的扩散系数 D. 杂质扩散在二氧化硅中的扩散很快
A. 对 B. 错