题目内容

可测试性的英文缩写为（）。

A. DFT
B. DMF
C. MTBF
D. MTTF

查看答案

搜索结果不匹配？点我反馈

更多问题

可测试性设计是指在电子产品设计中加入了先进的测试设计，使得所涉及产品的制造测试、开发和应用变得更为容易和便宜。

A. 对
B. 错

可测试性设计中测试点最小间距达0.18mm。

A. 对
B. 错

测试点形状设计要求形状及规格与测试探针尖端形状相对应。

A. 对
B. 错

测试点焊盘尺寸可以随意，只要探针能够接触就行。

A. 对
B. 错