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采用单色X射线多晶体，试样是由、的微晶体组成。

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粉末法主要用于测定晶体结构，进行物相、分析，精确测定晶体的点阵参数以及材料的应力、结构、晶粒大小等。

当晶面为（hkl）,对于立方晶系，晶面间距与晶面指数的关系式为。

镜面可以任意角度反射可见光，但X射线只有在满足的θ角上才能发生反射。

掠射角的极限范围为。