题目内容

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）

A. 可靠性测定试
B. 可靠性鉴定试验
C. 可靠性验收实验
D. 环境应力筛选试验

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