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在电子探针显微分析一节的讲解中,电子探针显微分析可以和下列哪些仪器进行联用,从而对材料成分进行分析?

A. 扫描电子显微镜(SEM)
B. 光电子能谱仪
C. 俄歇电子能谱仪
D. 透射电镜(TEM)

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特征X射线的位置(波长)只与靶材的原子序数Z有关,而与加速电压V和电流I无关,与Z的关系由莫塞菜(Mose1ey)定律表述。

A. 对
B. 错

俄歇电子的动能只与样品元素组成及所处的化学状态有关,不随入射光子(或其他粒子)的能量而改变,故入射束不需单色。

A. 对
B. 错

X射线光电子的动能只与样品元素组成有关,不随入射光子的能量而改变,故入射束不需单色。

A. 对
B. 错

俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均不能分析H和He。

A. 对
B. 错

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