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进行直流耐压试验时,一般是将硅堆的负极接试品。()

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泄漏电流是由介质中的离子或电子的移动形成的,它的大小与带电粒子的密度、速度、电荷量及外施电场等有关。()

进行直流泄漏试验时,若微安表的指示值随时间逐渐下降,可能是试品绝缘老化。()

进行直流泄漏试验时,测压用微安表不规则摆动,可能是测压电阻断线或接触不良所引起的。()

进行交流耐压试验时,对升压速度的要求是:40%以下的试验电压一般不受限制。()

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