A. 对 B. 错
A. 根据被检体厚薄预先确定曝光量 B. 有电离室式探测器 C. AEC的管电压特性与所用屏/片体系的管电压特性有关 D. 有半导体式探测器 E. 探测器的采光野位置应根据摄影部位选择
A. 滤除软X线 B. 滤除散射线 C. 限制照射野 D. 滤除强度过大的射线 E. 提高X线的穿透力
A. 5cm B. 8cm C. 10cm D. 12cm E. 15cm