题目内容

● 以下关于缺陷探测率(DDP)的表述,不正确的是(67) 。
(67)

A. DDP 是一个衡量测试工作效率的软件质量成本指标
B. 缺陷探测率越高,也就是测试者发现的错误越多,发布后客户发现的错误才可能越少
C. DDP是衡量测试投资回报的一个重要指标
D. 测试周期越长,缺陷探测率就会越高

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● V模型是具有代表意义的测试模型,以下理解正确的是(42) 。
(42)

A. V模型认为测试阶段是与开发阶段并行的
B. V模型是软件开发螺旋模型的变种,它反映了测试活动与分析和设计的关系
C. V模型造成需求分析阶段隐藏的问题一直到后期的验收测试才被发现
D. V模型是对W模型的改进

● 产品的功能性测试的内容不包括(37) 。
(37)

A. 适合性
B. 易用性
C. 正确性
D. 互操作性

● J2EE系统架构被各种信息系统普遍采用,(70)不属于其服务器端应用组件。
(70)

A. Servlet
B. JSP
C. EJB
D. Applet

● 以下关于汇编语言的叙述中,错误的是(48)。
(48)

A. 汇编语言源程序中的指令语句将被翻译成机器代码
B. 汇编语言的指令语句必须具有操作码字段,可以没有操作数字段
C. 汇编程序以汇编语言源程序为输入,以机器语言表示的目标程序为输出
D. 汇编程序先将源程序中的伪指令翻译成机器代码,然后再翻译指令语句

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