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工作寿命试验又称老化试验,是为了了解器件寿命的规律。

A. 对
B. 错

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集成电路失效分析必须要做好原始记录、判定失效模式,对失效特征进行描述并假设失效机理,最后经过分析证实,并提出改进措施。

A. 对
B. 错

判断:工作寿命试验又称老化试验,是为了了解器件寿命的规律。

A. 对
B. 错

晶圆测试是利用测试测试机台、探针台、探针卡之间的组合来测试晶圆上每一个芯片。

A. 对
B. 错

硅片的直径大小,芯片尺寸的增加、工艺步骤的增加,特征尺寸的减小和工艺的成熟性都直接影响到成品率。

A. 对
B. 错