集成电路失效率随时间变化的曲线称为:

用户接受测试主要是对集成电路的使用寿命进行测试。

A. 对
B. 错

工作寿命试验又称老化试验,是为了了解器件寿命的规律。

A. 对
B. 错

集成电路失效分析必须要做好原始记录、判定失效模式,对失效特征进行描述并假设失效机理,最后经过分析证实,并提出改进措施。

A. 对
B. 错

判断:工作寿命试验又称老化试验,是为了了解器件寿命的规律。

A. 对
B. 错

晶圆测试是利用测试测试机台、探针台、探针卡之间的组合来测试晶圆上每一个芯片。

A. 对
B. 错

硅片的直径大小,芯片尺寸的增加、工艺步骤的增加,特征尺寸的减小和工艺的成熟性都直接影响到成品率。

A. 对
B. 错

集成电路可靠性是指在一定的时间内,在规定的条件下,完成规定功能的能力。

A. 对
B. 错

可靠度是指单位时间内失效的电路数同该段时间内正常工作的电路总数。

A. 对
B. 错

集成电路的失效有很多,例如硅片缺陷、金属化工艺、键合、封装、可移动钠离子沾污以及工作的条件等等。

A. 对
B. 错