题目内容

根据失效变化规律,产品失效期分为:

A. 早期失效性
B. 偶然失效性
C. 损耗失效性
D. 现场试验期

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硅片制造完成后,封装之前检验硅片上每个芯片是否合格的测试是:

集成电路失效率随时间变化的曲线称为:

用户接受测试主要是对集成电路的使用寿命进行测试。

A. 对
B. 错

工作寿命试验又称老化试验,是为了了解器件寿命的规律。

A. 对
B. 错