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采用连续X射线照射不动的单晶体是法。

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下面是某立方晶系物质的几个晶面间距,试将它们从大到小按次序重新排列。(12-3)(100)(200)(-311)(121)(111)(2ˉ10)(220)(030)(22ˉ1)(110):。

掠射角θ是与的夹角,可表征的方向。

采用单色X射线多晶体,试样是由、的微晶体组成。

粉末法主要用于测定晶体结构,进行物相、分析,精确测定晶体的点阵参数以及材料的应力、结构、晶粒大小等。

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