题目内容

下列分析方法中，（）不能定量分析固体表面的化学成分。

A. 俄歇电子能谱
B. X射线光电子能谱
C. 二次离子质谱
D. 紫外光电子能谱

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X射线电子能谱仪、紫外电子能谱仪与俄歇电子能谱仪都是测量低能电子的仪器，三者的主要区别在于( ) 不同.

A. 检测器
B. 能量分析器
C. 分析对象
D. 激发源

电子探针显微分析（EPMA）的定性依据是。

A. 布拉格方程
B. 莫塞莱定律
C. 劳厄方程

电子探针显微分析所用的激发源是。

A. X射线连续光源
B. 特征X射线
C. 聚焦电子束
D. 显微镜

电子探针显微分析(EPMA)的信号检测系统是X射线谱仪，其又可分为和。

A. 波长分散谱仪（WDS）
B. 光电子能谱仪（XPS）
C. 能量分散谱仪（EDS）
D. 俄歇电子能谱仪（AES）