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电子探针显微分析所用的激发源是。

A. X射线连续光源
B. 特征X射线
C. 聚焦电子束
D. 显微镜

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电子探针显微分析(EPMA)的信号检测系统是X射线谱仪,其又可分为和。

A. 波长分散谱仪(WDS)
B. 光电子能谱仪(XPS)
C. 能量分散谱仪(EDS)
D. 俄歇电子能谱仪(AES)

在电子探针显微分析一节的讲解中,电子探针显微分析可以和下列哪些仪器进行联用,从而对材料成分进行分析?

A. 扫描电子显微镜(SEM)
B. 光电子能谱仪
C. 俄歇电子能谱仪
D. 透射电镜(TEM)

特征X射线的位置(波长)只与靶材的原子序数Z有关,而与加速电压V和电流I无关,与Z的关系由莫塞菜(Mose1ey)定律表述。

A. 对
B. 错

俄歇电子的动能只与样品元素组成及所处的化学状态有关,不随入射光子(或其他粒子)的能量而改变,故入射束不需单色。

A. 对
B. 错

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