题目内容

XPS中的电子结合能与以下哪一个因素无关()。

A. 元素类别
B. 电子占据轨道
C. 元素所处化学态
D. 入射X射线强度

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某半导体材料的表面能带结构测定，可以选择下列方法中的（）

A. 红外光谱
B. 透射电镜
C. X射线衍射
D. 紫外光电子能谱

下列分析方法中，（）不能定量分析固体表面的化学成分。

A. 俄歇电子能谱
B. X射线光电子能谱
C. 二次离子质谱
D. 紫外光电子能谱

X射线电子能谱仪、紫外电子能谱仪与俄歇电子能谱仪都是测量低能电子的仪器，三者的主要区别在于( ) 不同.

A. 检测器
B. 能量分析器
C. 分析对象
D. 激发源

电子探针显微分析（EPMA）的定性依据是。

A. 布拉格方程
B. 莫塞莱定律
C. 劳厄方程