单晶硅形成时,必须要有一个排列标准,这个标准称为:
A. 杂质
B. 多晶硅
C. 籽晶
D. 单晶硅
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下列选项中,确定单晶硅棒的导电类型的方法是:
A. 热探针法
B. 四探针法
C. 光电导衰减法
D. 化学腐蚀法
下列选项中,能够测试单晶硅棒的电阻率的方法是:
A. 热探针法
B. 四探针法
C. 光电导衰减法
D. 化学腐蚀法
下列选项中,能够测试少数载流子寿命的方法是:
A. 热探针法
B. 四探针法
C. 光电导衰减法
D. 化学腐蚀法
利用一定的刃部轮廓的砂轮磨掉硅片边缘的棱角,使之变得光滑的工艺为:
A. 倒角
B. 磨片
C. 化学腐蚀
D. CMP
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